OPTO-EDU A63.7235 Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией 12 кВ 600000x
-
Выделить
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией 12 кВ
,Высокопроизводительный сканирующий микроскоп 600000x
,Сканирующий электронный микроскоп OPTO-EDU с высоким увеличением
-
Электронная пушкаШоттская тепловая эмиссия Эмиссия Электрона Стабильность тока луча <1%/день
-
Объективная система объективаSorril ™ Electromagnetic Compound Lens Lens Mode Demeleration
-
Стандартное расстояние работы1,5 мм
-
Максимальное поле зрения100um (стандартное рабочее расстояние) 1 мм (максимальное рабочее расстояние)
-
Электронный детектор (стандарт)Детектор SE в колонке в объективе BSE детектор
-
Обнаружение высоты WDFOCUS Tracking ™ Автоматическое отслеживание фокуса
-
Место происхожденияКИТАЙ
-
Фирменное наименованиеCNOEC, OPTO-EDU
-
СертификацияCE, Rohs
-
Номер моделиA63.7230
-
Документ
-
Количество мин заказа1 шт
-
ЦенаFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Упаковывая деталиУпаковка коробки, для перевозок из страны
-
Время доставки5 ~ 20 дней
-
Условия оплатыT/T, West Union, PayPal
-
Поставка способностимесяц 5000 ПК
OPTO-EDU A63.7235 Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией 12 кВ 600000x
OPTO-EDU A63.7235 Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией 12 кВ 600000x
Основные характеристики
- Разрешение 1,5 нм при 1 кВ, автоматическое получение и сшивка больших изображений до размера см2
- Двухканальное синхронное получение изображений SE и BSE, каждый 100M пикселей/с
- Общая скорость получения изображений > в 10 раз выше, чем у традиционных электронных микроскопов
- Быстрое создание отчетов об анализе данных из массивных изображений СЭМ
- Характеризация материалов в масштабе от миллиметров до нанометров
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией A63.7235 предназначен для крупномасштабной характеризации и анализа образцов в масштабе, широко используется в исследованиях и промышленности. Его автоматизированная технология нано-визуализации со сверхвысокой скоростью обеспечивает исключительное качество изображений.
Основные возможности:
- Разрешение 1,5 нм при 1 кВ, автоматическое получение и сшивка больших изображений до размера см2
- Двухканальное синхронное получение изображений SE и BSE, каждый 100M пикселей/с
- Общая скорость получения изображений > в 10 раз выше, чем у традиционных электронных микроскопов
- Быстрое создание отчетов об анализе данных из массивных изображений СЭМ
- Характеризация материалов в масштабе от миллиметров до нанометров
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией A63.7235, разработанный Opto-Edu, обеспечивает высокую производительность получения изображений благодаря систематическому инновационному дизайну в области технологий получения изображений, платформы движения, управления цепями и интеллектуальных алгоритмов, со скоростью получения изображений, превышающей скорость традиционных электронных микроскопов в десятки раз. В нем используются прямые детекторы электронов, что позволяет преодолеть ограничения традиционной технологии СЭМ в скорости, точности и повреждении образца.
Технические характеристики
| Электронно-оптический объектив | |
|---|---|
| Электронная пушка | Термополевой эмиссионный источник электронов типа Шоттки Стабильность тока пучка<1%/день |
| Система объектива | SORRIL™ Электромагнитный составной объектив Режим замедления предметного столика |
| Разрешение | 1,5 нм при 1 кВ 1,3 нм при 3 кВ |
| Иммерсионный электромагнитный объектив (*①) | |
| Ускоряющее напряжение | 0,1-12 кВ, плавная регулировка (*②) |
| Увеличение | 500X~600 000X (изображение СЭМ) 1X-600X (оптическая навигация) |
| Ток пучка | 50пА~30нА (*③) |
| Стандартное рабочее расстояние | 1,5 мм |
| Максимальное поле зрения | 100 мкм (стандартное рабочее расстояние) 1 мм (максимальное рабочее расстояние) |
| Бланкер электронного пучка | Электростатический бланкер |
Дополнительные функции
▶ Сверхбыстрая визуализация
- Достигнуто двухканальное синхронное получение изображений вторичных электронов и электронов обратного рассеяния благодаря независимо разработанному аппаратному и программному обеспечению: визуализация на уровне видео с высоким разрешением
- Частота кадров на уровне видео высокой четкости позволяет наблюдать динамические изменения образца в реальном времени
▶ Высокое качество изображения
- Уникальная система иммерсионного электромагнитного составного объектива эффективно уменьшает оптические аберрации
- Электростатическая система сканирующего отклонения уменьшает искажения краев изображения
- Внутриобъективные детекторы SE и BSE на основе полупроводниковых прямых электронов обеспечивают двухканальную одновременную высокоскоростную визуализацию
- Система активной компенсации устраняет внешние помехи
▶ Крупномасштабная визуализация в разных масштабах
- Сверхвысокоскоростная возможность сканирования изображений с полностью автоматической системой отслеживания фокусировки
- Алгоритмы обработки изображений A.I. обеспечивают высокоточное полностью автоматическое непрерывное матричное сканирование
- Автоматическая сшивка для получения панорамных изображений нанометрового разрешения большого размера
▶ Интеллектуальный анализ
- Интеллектуальный анализ больших данных, быстрое создание отчетов об анализе данных
- Интеллектуальная обработка изображений, индивидуальное измерение, статистика и анализ изображений
▶ Простота эксплуатации
- Полностью автоматическая загрузка и навигация образцов, замена образцов одним щелчком
- Оптическая визуализация навигации с большим полем зрения плавно соединяется с визуализацией СЭМ
- Круглосуточная полностью автоматизированная работа без участия оператора
Примеры применения
Наблюдение микроструктуры клеток в мозге, сердце, печени и почках мыши под сканирующим электронным микроскопом с использованием Arrays Scan для выполнения полностью автоматического сканирования образцов целевой области.
Образец готовится методом непрерывного нарезания, собирая до сотен срезов, помещая их на круг образца и загружая в СЭМ за один раз.
Патологический анализ: всесторонний сбор всей подробной информации по всему срезу и увеличение любой области для четкого наблюдения ультраструктуры субклеточных органелл в ткани почки.
Примечания
* Примечание:
①: Дополнительный неиммерсионный электромагнитный объектив для наблюдения ферромагнитных материалов
②: Дополнительная электронная пушка 0~30 кВ
③: Дополнительно 100 нА
④: Дополнительный лазерный интерферометр
①: Дополнительный неиммерсионный электромагнитный объектив для наблюдения ферромагнитных материалов
②: Дополнительная электронная пушка 0~30 кВ
③: Дополнительно 100 нА
④: Дополнительный лазерный интерферометр
сопутствующие товары
Наши продукты продаются по всему миру, поэтому вы можете быть уверены в том, что производятся наши продукты в целом.