logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
OPTO-EDU A63.7005 Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope SE BSE 100000x 2.5nm@20KV

OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ

  • Resolution
    2.5nm@15KV
  • Magnification
    1000000x
  • Electron Gun
    Schotty FEG
  • Voltage
    1-15KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD+Cabin Camera
  • Place of Origin
    China
  • Фирменное наименование
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Сертификация
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7005
  • Документ
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Цена
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ

  • Увеличение 1000000x, разрешение 2.5 нм при 15 кВ с SE+BSE+CCD, опционально EDS
  • Картридж Shotty FEG, напряжение 1-15 кВ, стандартные детекторы SE, BSE, CCD, опционально EDS,
  • Стандартный моторизованный столик X/Y, опционально 3 оси X/Y/Z или X/Y/T, 5 осей X/Y/Z/R/T
  • Высоковакуумная система: турбомолекулярный насос, механический насос, ионный пучок x2, вакуум в камере<5x10-4Па
  • Автофокусировка одним нажатием, автоматическая регулировка яркости и контрастности, не требуется виброизолирующий стол
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 0
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 1

Основные характеристики:

1. Ускоряющее напряжение: 1-15 кВ, плавная регулировка.

2. Тип электронной пушки: полевой эмиссионный пистолет (FEG), высокоинтегрированная двухступенчатая линза, нет необходимости вручную регулировать диафрагму объектива.

3. Увеличение ≥1000000X

4. Разрешение:≤2.5 нм при 15 кВ

5. Детектор: детектор вторичных электронов (SE), четырехканальный детектор обратного рассеяния (BSE),

6. Столик: 2-осевой моторизованный столик XY, перемещение 60x55 мм

7. Максимальный размер образца:  100*78*68.5 мм при свободном перемещении по осям XY

8. Время замены образца и откачки до высокого вакуума ≤ 180 с.

9. Высоковакуумная система: механический насос, турбомолекулярный насос, ионный насос x2, вакуум в камере образца ≥4x10-2Па, полностью автоматическое управление;

10. Видеорежим ≥512x512 пикселей, нет необходимости в сканировании в маленьком окне.

11. Режим быстрого сканирования: время получения изображения≤3 с, 512x512 пикселей.

12. Режим медленного сканирования: время получения изображения≤40 с, 2048x2048 пикселей.

13. Файлы изображений: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Автоматическая регулировка яркости и контрастности одним нажатием, автофокусировка, сшивка больших изображений

15. Функция навигации: навигация по оптической камере и камере в кабине.

16. Функция измерения изображения: расстояние, угол и т. д.

17. Включая компьютер и программное обеспечение, управление мышью.

18. Дополнительно:

--Вольфрамовая нить (20 шт./коробка)

--EDS

--3-осевой моторизованный столик XYZ

--3-осевой моторизованный столик XYT

--5-осевой моторизованный столик XYZRT

--Низкий вакуум (1-60 Па)

--Столик In-Situ от оригинального завода, нагрев, охлаждение, растяжение и т. д.

--Режим замедления, 1-10 кВ, позволяет наблюдать непроводящие или плохо проводящие образцы без напыления золотом, только для режима BSE

--Виброизолирующая платформа (рекомендуется для A63.7005)

19. Размер микроскопа 650*370*642 мм, размер механического насоса 340*160*140 мм

 
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 2
Модель A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Разрешение 10 нм при 15 кВ 6 нм при 18 кВ 4 нм при 20 кВ 3 нм при 20 кВ 2.5 нм при 15 кВ
Увеличение 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Электронная пушка Вольфрам Вольфрам Вольфрам LaB6 Schotty FEG
Напряжение 5/10/15 кВ 3-18 кВ 3-20 кВ 3-20 кВ 1-15 кВ
Детектор BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
Навигация CCD CCD CCD CCD+Камера в кабине CCD+Камера в кабине CCD+Камера в кабине
Время вакуумирования 90 с 90 с 30 с 90 с 180 с
Вакуумная система Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Ионный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Ионный насос x2
Вакуум Высокий вакуум
1x10-1Па
Высокий вакуум
1x10-1Па
Высокий вакуум
1x10-1Па
Высокий вакуум
5x10-4Па
Высокий вакуум
5x10-4Па
Столик Столик XY,
40x30/40x40 мм
Столик XY,
40x30/40x40 мм
Столик XY,
60x55 мм
Столик XY,
60x55 мм
Столик XY,
60x55 мм
Точность столика - Точность позиционирования 5 мкм
Рабочее расстояние 5-35 мм 5-35 мм 5-73.4 мм 5-73.4 мм 5-73.4 мм
Макс. образец 80x42x40 мм 80x42x40 мм 100x78x68.5 мм 100x78x68.5 мм 100x78x68.5 мм
Дополнительно Вольфрамовая нить 20 шт./коробка Lab6 нить Лампа полевой эмиссии
EDS Oxford AZtecOne с XploreCompact 30
- Низкий вакуум  1-100 Па Низкий вакуум 1-30 Па
- Z-осевой модуль 3-осевой столик, X 60 мм, Y 50 мм, Z 25 мм
- T-осевой модуль 3-осевой столик, X 60 мм, Y 50 мм, T ±20°
- - 5-осевой столик, X 90 мм, Y 50 мм, Z 25 мм, T ±20°, R 360°
- - Виброизолирующая платформа, для 3-осевого, 5-осевого столика
- Режим замедления 1-10 кВ для наблюдения за непроводящими образцами, только для BSE
- Столик In-Situ от оригинального завода, нагрев, охлаждение, растяжение и т. д. 
ИБП
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 3
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 4
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 5
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 6
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 7
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 8
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 9
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 10
 
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 11

AZtecOne с XploreCompact 30 для TTM

 

Система обычного EDS-анализа

Система обеспечивает качественный и количественный анализ различных материалов, анализируя элементы от B(5) до cf (98). В дополнение к отдельным точечным сканированиям поверхности образца доступны мощные линейные сканирования и сканирования по элементам. В сочетании с настраиваемым детектором анализ и отчетность могут быть выполнены за секунды.

 
Эффективная площадь кристалла 30 мм2 Разрешение (фото) Mn Ka <129 эВ при 50 000 имп/с
Диапазон обнаружения элементов B (5) to cf (98) Максимальная входная скорость счета >1 000 000 имп/с
OPTO-EDU A63.7005 Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки SE BSE 100000x 2.5нм@20кВ 12