logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
OPTO-EDU A63.7004 Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Resolution
    3nm@20KV
  • Magnification
    360000x
  • Electron Gun
    LaB6
  • Voltage
    3-20KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD+Cabin Camera
  • Place of Origin
    China
  • Фирменное наименование
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Сертификация
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7004
  • Документ
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Цена
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Увеличение 360000x Разрешение 3 нм при 20 кВ С детектором SE+BSE+CCD, опционально EDS
  • Стандартный моторизованный столик X/Y, опционально 3 оси X/Y/Z, 5 осей X/Y/Z/R/T
  • Однокристальный картридж с вольфрамовым катодом LaB6 Напряжение 20 кВ, срок службы >1500 часов
  • Высоковакуумная система с механическим роторным насосом для достижения вакуума за 30 с
  • Автофокусировка одним нажатием, автоматическая регулировка яркости и контрастности, не требуется виброизоляционный стол
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 0
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 1

A63.7004 Настольные сканирующие электронные микроскопы (СЭМ), модернизация пушки с вольфрамовой на LaB6,включают в себя множество инновационных технологий, предлагая не только превосходные характеристики изображения, но и портативность, удовлетворяя широкий спектр потребностей в применении. Как на внутреннем, так и на международном рынке серия ZEM, благодаря своему высокому позиционированию и разнообразным моделям, достигла передовых стандартов в четкости изображения, удобстве использования и системной интеграции.

 

A63.7004 славится высоким уровнем интеграции и гибкими вариантами конфигурации. Пользовательский интерфейс прост, легок в освоении и эксплуатации, что позволяет даже неопытным пользователям быстро освоиться. Сопутствующее программное обеспечение поддерживает весь рабочий процесс, от подготовки образца, регулировки параметров до анализа изображений, обеспечивая интегрированное и эффективное решение.A63.7004 продемонстрировал сильные аналитические возможности в нескольких областях, таких как новые материалы, новая энергия, биомедицина и полупроводники, помогая исследователям исследовать тайны микроскопического мира. Благодаря отличному соотношению цены и качества, серия ZEM стала предпочтительным выбором для многих университетов, исследовательских институтов и предприятий, ищущих настольный сканирующий электронный микроскоп.

 

Настольный СЭМ A63.7004 использует более широкий диапазон ускоряющих напряжений, шаги 1 кВ и максимальное увеличение 360 000x с разрешением до 5 нм. Режим замедления на столе позволяет в реальном времени наблюдать продукты с низкой проводимостью без необходимости напыления золота. Сверхбольшой отсек для образцов может быть интегрирован с широким спектром платформ расширения in-situ для удовлетворения различных экспериментальных и инспекционных потребностей.

OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 2

Условия работы:

Требования к окружающей среде: небольшие размеры, вся машина может быть размещена на обычном лабораторном столе, нет необходимости оснащать дополнительным виброизоляционным столом.

1. Электропитание 220 В, 50 Гц, 1 кВт

2. Температура: Рабочая температура окружающей среды: 15°C-30°C

3. Влажность:<80% относительной влажности

OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 3
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 4

Основные характеристики:

1. Ускоряющее напряжение: 3-20 кВ, плавно регулируется.

2. Тип электронной пушки: предварительно выровненный однокристальный вольфрамовый катод LaB6, срок службы 1500 часов, высокоинтегрированная двухступенчатая линза пушки, нет необходимости вручную регулировать диафрагму объектива.

3. Увеличение ≥360000X

4. Разрешение:≤3 нм при 20 кВ

5. Детектор: детектор вторичных электронов (SE), четырехквадрантный детектор обратного рассеяния (BSE),

6. Столик: 2-осевой моторизованный столик XY, перемещение 60x55 мм

7. Максимальный размер образца:  100*78*68,5 мм при свободном перемещении по осям XY

8. Время замены образца и откачки высокого вакуума ≤ 90 с.

9. Высоковакуумная система: механический насос, турбомолекулярный насос, ионный насос, вакуум в камере образца ≥4x10-2 Па, полностью автоматическое управление;

10. Видеорежим ≥512x512 пикселей, нет необходимости в сканировании небольшого окна.

11. Режим быстрого сканирования: время получения изображения ≤3 с, 512x512 пикселей.

12. Режим медленного сканирования: время получения изображения ≤40 с, 2048x2048 пикселей.

13. Файл изображения: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Автоматическая регулировка яркости и контрастности одним нажатием, автофокусировка, сшивка больших изображений

15. Функция навигации: навигация по оптической камере и камере кабины.

16. Функция измерения изображения: расстояние, угол и т. д.

17. Включая компьютер и программное обеспечение, управление мышью.

18. Дополнительно:

--Вольфрамовый катод (20 шт./коробка)

--EDS

--3-осевой моторизованный столик XYZ

--3-осевой моторизованный столик XYT

--5-осевой моторизованный столик XYZRT

--Низкий вакуум (1-60 Па)

--Столик In-Situ от оригинальной фабрики, нагрев, охлаждение, растяжение и т. д.

--Режим замедления, 1-10 кВ, позволяет наблюдать образцы с низкой проводимостью или непроводящие образцы без напыления золота, только для режима BSE

--Виброизоляционная платформа (рекомендуется для A63.7004)

19. Размер микроскопа 650*370*642 мм, размер механического насоса 340*160*140 мм

 
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 5
Модель A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Разрешение 10 нм при 15 кВ 6 нм при 18 кВ 4 нм при 20 кВ 3 нм при 20 кВ 2,5 нм при 15 кВ
Увеличение 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Электронная пушка Вольфрам Вольфрам Вольфрам LaB6 Schotty FEG
Напряжение 5/10/15 кВ 3-18 кВ 3-20 кВ 3-20 кВ 1-15 кВ
Детектор BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
Навигация CCD CCD CCD CCD+Камерный камера CCD+Камерный камера CCD+Камерный камера
Время вакуумирования 90 с 90 с 30 с 90 с 180 с
Вакуумная система Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Ионный насос
Механический насос
Молекулярный насос
Ионный насос x2
Вакуум Высокий вакуум
1x10-1 Па
Высокий вакуум
1x10-1 Па
Высокий вакуум
1x10-1 Па
Высокий вакуум
5x10-4 Па
Высокий вакуум
5x10-4 Па
Столик Столик XY,
40x30/40x40 мм
Столик XY,
40x30/40x40 мм
Столик XY,
60x55 мм
Столик XY,
60x55 мм
Столик XY,
60x55 мм
Точность столика - Точное позиционирование 5 мкм
Рабочее расстояние 5-35 мм 5-35 мм 5-73,4 мм 5-73,4 мм 5-73,4 мм
Макс. образец 80x42x40 мм 80x42x40 мм 100x78x68,5 мм 100x78x68,5 мм 100x78x68,5 мм
Дополнительно Вольфрамовый катод 20 шт./коробка Катод Lab6 Лампа полевой эмиссии
EDS Oxford AZtecOne с XploreCompact 30
- Низкий вакуум 1-100 Па Низкий вакуум 1-30 Па
- Модуль по оси Z 3-осевой столик, X 60 мм, Y 50 мм, Z 25 мм
- Модуль по оси T 3-осевой столик, X 60 мм, Y 50 мм, T ±20°
- - 5-осевой столик, X 90 мм, Y 50 мм, Z 25 мм, T ±20°, R 360°
- - Виброизоляционная платформа, для 3-осевого, 5-осевого столика
- Режим замедления 1-10 кВ для наблюдения за непроводящими образцами, только для BSE
- Столик In-Situ от оригинальной фабрики, нагрев, охлаждение, растяжение и т. д.
ИБП
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 6
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 7
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 8
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 9
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 10
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 11
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 12
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 13
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 14

AZtecOne с XploreCompact 30 для TTM

 

Системный обычный анализ EDS

Система обеспечивает качественный и количественный анализ различных материалов, анализируя элементы от B(5) до cf (98). В дополнение к отдельным точечным сканированиям поверхности образца также доступны мощные линейные сканирования и спектральные сканирования элементов. В сочетании с настраиваемым детектором анализ и отчетность могут быть выполнены за секунды.

 
Эффективная площадь кристалла 30 мм2 Разрешение (фото) Mn Ka <129 эВ при 50 000 отсчетов в секунду
Диапазон обнаружения элементов B (5) to cf (98) Максимальная входная скорость счета >1 000 000 отсчетов в секунду
 
OPTO-EDU A63.7004 Однокристаллический сканирующий электронный микроскоп SE BSE 360000x 3nm@20KV 15