OPTO-EDU A63.7230 Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп STEM 50KV 800000x
-
Отображать режимBF/DF (светлое поле/темное поле)
-
Напряжение посадки в режиме STEM50кВ
-
Тип детектораПолупроводниковый прямой детектор
-
Электронная пушкаТермоэлектронная эмиссия Шоттки
-
Электронный ток50pA до 100nA
-
Стадия выборкиX=±4мм, Y=±4мм, Точность позиционирования 1мкм
-
Место происхожденияКитай
-
Фирменное наименованиеCNOEC, OPTO-EDU
-
СертификацияCE, Rohs
-
Номер моделиA63.7230
-
Документ
-
Количество мин заказа1 шт.
-
ЦенаFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Упаковывая деталиУпаковка коробки, для перевозок из страны
-
Время доставки5 ~ 20 дней
-
Условия оплатыT/T, западное соединение, PayPal
-
Поставка способностимесяц 5000 ПК
OPTO-EDU A63.7230 Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп STEM 50KV 800000x
|
Система быстрого автоматического анализа изображений микрочастиц A63.7230 - это быстрый, интеллектуальный, полностью автоматизированный сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM) с полной независимой интеллектуальной собственностью при 50 кВ. Он отвечает потребностям применения в таких областях, как наблюдение за морфологией вирусов, тестирование безопасности клеточных банков вакцин, исследования и производство вакцин, исследования срезов клинических патологических тканей и биологические исследования нейронной связности мозга. |
|
Основные технологии A63.7230 |
|
|
◉ Электронно-оптическая система высокого разрешения и высокой яркости Сверхскоростная визуализация 100 МБ/с при 50 кВ. Система обладает возможностями наноразмерного анализа видеоуровня (25 кадров в секунду при 2k*2k), что позволяет полностью автоматизировать получение информации без пропусков, сохраняя при этом высокое разрешение. ◉ Высокочувствительный прямой электронный детектор Все детекторы A63.7230 используют независимо разработанные прямые электронные детекторы, которые преобразуют электроны непосредственно в электрические сигналы, достигая эффективности обнаружения более 80% и более высокого отношения сигнал/шум (SNR). ◉ Быстрое переключение между большим полем и визуализацией высокого разрешения Инновационная электронно-оптическая конструкция позволяет независимо работать визуализации большого поля и визуализации высокого разрешения, обеспечивая быстрое переключение, точную идентификацию и позиционирование частиц, а также быструю визуализацию высокого разрешения. ◉ Высокоскоростная и высокостабильная платформа механического перемещения Использует виброустойчивую платформу перемещения, X=±4 мм, Y=±4 мм, точность позиционирования 1 мкм. |
|
| Просвечивающий сканирующий электронный микроскоп A63.7230 (STEM) | |
| Разрешение | 1.0 нм при 50 кВ |
| (ток пучка 1 нА, в оптимальных условиях) | |
| Режим визуализации | BF/DF (светлое поле/темное поле) |
| Напряжение посадки в режиме STEM | 50 кВ |
| Тип детектора | Полупроводниковый прямой детектор |
| Увеличение | 1X-500X (оптическая визуализация с низким увеличением) |
| 500X - 800 000X (изображения STEM) | |
| Электронная пушка | Термополевая эмиссия типа Шоттки |
| Ток электронного пучка | от 50 пА до 100 нА |
| Столик для образцов | X=±4 мм, Y=±4 мм, точность позиционирования 1 мкм |
| Поток визуализации | Может завершить визуализацию области 1x1 мм² с пикселем 4 нм в течение 0,5 часов |
| Сверхскоростное получение изображений | 100 МБ/с, одно изображение 24k x 24k занимает всего 6,5 с для захвата |
| Метод получения | Получение STEM в светлом поле (BF) или темном поле (DF) |
| Программное обеспечение управления электронным микроскопом с высокой пропускной способностью | Оснащено функциями автоматической оптимизации изображения, интеллектуального отслеживания фокуса, панорамной оптической навигации и полностью автоматизированного получения больших областей |
| Быстрое переключение между большим полем и визуализацией высокого разрешения | Инновационная электронно-оптическая конструкция, независимая работа визуализации большого поля и визуализации высокого разрешения, быстрое переключение, точная идентификация и позиционирование частиц, быстрая визуализация высокого разрешения |
| Программное обеспечение для обработки анализа изображений AI Server | Визуализация сверхбольшого поля, 100 мкм при 25 нм, высокоэффективное распознавание и измерение AI Server |
| Возможность количественного обнаружения частиц с высокой пропускной способностью | Совершенно новая система загрузки образцов и автоматизированная система управления образцами, обеспечивающая количественное обнаружение |
|
▶ Оптическая система, разработанная для полностью автоматического обнаружения микрочастиц
Традиционные просвечивающие электронные микроскопы имеют небольшое поле зрения, что не может удовлетворить потребности в обнаружении и идентификации большого количества наночастиц. A63.7230 разработан на основе концепций оборудования для обнаружения электронного пучка промышленного класса, обеспечивая возможности обнаружения наночастиц с высокой пропускной способностью.
A63.7230 обеспечивает сверхскоростную визуализацию благодаря инновационным конструкциям, таким как технология быстрой визуализации, виброустойчивый столик для образцов, высокоскоростная электронно-оптическая система и технология ИИ, со скоростью визуализации, достигающей в десятки раз большей, чем у традиционных электронных микроскопов. |
|
▶ Полностью автоматизированный дизайн Ряд действий, таких как проверка включения питания, навигационное позиционирование, центрирование одним щелчком мыши, регулировка фокуса и коррекция смещения, автоматизированы. Система отслеживания фокуса в реальном времени состоит из аппаратного и программного обеспечения. Использование точного электронного отклонения для достижения точного позиционирования изображений образцов, что приводит к высокой повторяемости результатов. Это не только устраняет необходимость в значительных усилиях для регулировки и определения местоположения образцов, но и использует интеллект ИИ для автоматического обнаружения, что в конечном итоге обеспечивает непрерывную работу без присмотра. |
|
▶ Настраиваемые программные функции для разных клиентов Использование современного искусственного интеллекта, алгоритмов ИИ и т. д. для оказания помощи экспериментальному персоналу в анализе, от подготовки образцов до автоматической визуализации и сшивки всего среза электронным микроскопом, создания карт высокого разрешения, а затем обработки данных. Интеллектуальный анализ ИИ может использоваться для автоматического обнаружения и классификации частиц, предоставляя пользователям полное решение. |
Наши продукты продаются по всему миру, поэтому вы можете быть уверены в том, что производятся наши продукты в целом.