А63.7088 | |
Резолюция | 1.0nm@30KV(SE), 1,5nm@1KV(SE) |
Увеличение | 1x~2000000x |
Электронная пушка | Пистолет с полевыми выбросами Schottky |
Напряжение | Ускоряющее напряжение 0,02 ~ 30 КВ |
Электронный луч | 1pA ~ 20nA |
Вакуумная система | 1 Ионный насос с распылителем, 1 Турбомолекулярный насос, 1 Механический насос |
Детектор | SE в линзе, SE в пробирке, BSE, CCD |
Расширить порт | Расширить порты на пробную комнату для BSE, EDS, EBSD, CL и т.д. |
Стадия образца | 5 ОсиАвтомобильСтадия, дальность движения: X=125 мм, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360°, T=-5°~+70° |
Максимальный экземпляр | Диаметром 330 мм, высотой 260 мм. |
Система изображения | Реальное неподвижное изображение Максимальное разрешение 256x256 ~ 16k ~ 16k пикселей |
Компьютер и программное обеспечение | PC Workstation Windows System, с профессиональным программным обеспечением для анализа изображений для полного управления всей операцией микроскопа SEM, мышью, клавиатурой |
Контрольная панель | Включается |
Размеры и вес | Основное тело 1900x1100x1800 мм, общая масса 800 кг |
Факультативные аксессуары | |
А50.7091 | Чистильщик ионного луча |
А50.7092 | Лампа для пушек с полевыми выбросами |
▶Высшее электронно-оптическое проектирование ●Электронная пушка теплового поля, стабильный луч, высокое разрешение изображений ●Технология ускорения полной трубки обеспечивает высокую производительность изображения электронного пучка при низком напряжении ускорения ●Конструкция композитного объектива из электростатического объектива и магнитного объектива, объективная линза не имеет магнитной утечки, и изображение магнитных образцов без проблем |
▶Всеобъемлющая система сбора сигналов ● Может одновременно собирать сигналы от двух типов вторичных электронов, обратно рассеянных электронов и передаваемых электронов. ● Контраст морфологии и состава образца отображается одновременно, чтобы максимально раскрыть микроскопическую морфологию и состав образца. |