Атомно-силовой микроскоп исследовательского уровня

• Исследовательский уровень, комбинированный дизайн контроллера и основного корпуса, с контактным режимом, режимом постукивания, объективом 10x.
• Прецизионный лазер и устройство позиционирования зонда, простая и удобная замена зонда и регулировка точки
• Высокоточные и крупногабаритные пьезоэлектрические керамические сканеры могут быть выбраны в соответствии с различными требованиями к точности и диапазону сканирования.
• Оптическое позиционирование объектива 10X APO, отсутствие необходимости фокусировки, наблюдение в реальном времени и позиционирование области сканирования образца зонда;
• Ударопрочный метод пружинной подвески прост и практичен, а также обладает сильной защитой от помех.

• 

• ◆ Головка лазерного детектирования и столик сканирования образца интегрированы, структура очень стабильна, а защита от помех сильна.

• ◆ Прецизионное устройство позиционирования зонда, регулировка выравнивания лазерного пятна очень проста

  ◆ Образец с одноосным приводом автоматически приближается к датчику вертикально, так что кончик иглы перпендикулярен сканируемому образцу.

  ◆ Интеллектуальный метод подачи иглы автоматического обнаружения пьезоэлектрической керамики под давлением с электроприводом защищает датчик и образец.

•  

  ◆ Можно свободно выбирать высокоточные пьезоэлектрические керамические сканеры широкого спектра действия.

   

  ◆ Автоматическое оптическое позиционирование объектива с большим увеличением, отсутствие необходимости фокусировки, наблюдение в реальном времени и позиционирование области сканирования пробы зонда

• ◆ Противоударный метод пружинной подвески, простой и практичный, хороший противоударный эффект

  ◆ Металлический экранированный звуконепроницаемый бокс, встроенный высокоточный датчик температуры и влажности, мониторинг рабочей среды в режиме реального времени

• ◆ Встроенный пользовательский редактор нелинейной коррекции сканера, нанометровая характеристика и точность измерения выше 98%

•  

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• 

• Технические характеристики	А62.4500	А622.4501	А62.4503	А62.4505
  Режим работы	Режим постукивания [По желанию] Контактный режим Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим	Контактный режим Режим постукивания [По желанию] Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим	Контактный режим Режим постукивания [По желанию] Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим	Контактный режим Режим постукивания [По желанию] Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим
  Кривая текущего спектра	Кривая RMS-Z [По желанию] Кривая силы FZ	Кривая RMS-Z Кривая силы FZ	Кривая RMS-Z Кривая силы FZ	Кривая RMS-Z Кривая силы FZ
  XY диапазон сканирования	20×20ум	20×20ум	50×50 мкм	50×50 мкм
  XY разрешение сканирования	0,2 нм	0,2 нм	0,2 нм	0,2 нм
  Z-диапазон сканирования	2,5 мкм	2,5 мкм	5 мкм	5 мкм
  Y Разрешение сканирования	0,05 нм	0,05 нм	0,05 нм	0,05 нм
  Скорость сканирования	0,6 Гц ~ 30 Гц	0,6 Гц ~ 30 Гц	0,6 Гц ~ 30 Гц	0,6 Гц ~ 30 Гц
  Угол сканирования	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Размер образца	Φ≤90мм В≤20мм	Φ≤90мм В≤20мм	Φ≤90мм В≤20мм	Φ≤90мм В≤20мм
  Перемещение сцены по осям XY	15×15 мм	15×15 мм	25×25 мкм	25×25 мкм
  Амортизирующий дизайн	Пружинная подвеска	Пружинная подвеска Металлическая защитная коробка	Пружинная подвеска Металлическая защитная коробка	-
  Оптическая система	4x цель Разрешение 2,5 мкм	4x цель Разрешение 2,5 мкм	10-кратное увеличение цели Разрешение 1 мкм	Окуляр 10x Бесконечный план LWD APO 5x10x20x50x 5,0-мегапиксельная цифровая камера 10-дюймовый ЖК-монитор, с измерением Светодиодное освещение Колера Коаксиальная грубая и точная фокусировка
  Выход	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Программного обеспечения	Выиграть ХР/7/8/10	Выиграть ХР/7/8/10	Выиграть ХР/7/8/10	Выиграть ХР/7/8/10

• микроскоп	Оптический микроскоп	Электронный микроскоп	Сканирующий зондовый микроскоп
  Максимальное разрешение (мкм)	0,18	0,00011	0,00008
  Примечание	Погружение в масло 1500x	Отображение атомов углерода алмаза	Визуализация графитовых атомов углерода высокого порядка

• Взаимодействие зонд-образец	Сигнал измерения	Информация
  Сила	Электростатическая сила	Форма
  Туннельный ток	Текущий	Форма, проводимость
  Магнитная сила	Фаза	Магнитная структура
  Электростатическая сила	Фаза	распределение заряда

• 	Разрешение	Рабочее состояние	Рабочая температура	Повреждение образца	Глубина осмотра
  СЗМ	Уровень атома 0,1 нм	Нормальный, Жидкость, Вакуум	Комната или низкая температура	Никто	1~2 атомный уровень
  ТЕМ	Точка 0,3 ~ 0,5 нм Решетка 0,1~0,2 нм	Высокий вакуум	Комнатная температура	Маленький	Обычно <100нм
  СЭМ	6-10нм	Высокий вакуум	Комнатная температура	Маленький	10 мм при 10x 1 мкм @10000x
  ФИМ	Уровень атома 0,1 нм	Сверхвысокий вакуум	30~80К	Ущерб	Толщина атома

• 
•  
•  

•