logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080

Продукция - Микроскоп сканирования
  • Выделить

    контролируемый электронный кинескоп sem сканирования мыши

    ,

    электронный кинескоп sem сканирования увеличения 800000x

  • Разрешение
    1,5 нм при 15 кВ (SE); 3 нм при 20 кВ (BSE)
  • Увеличение
    1x~600000x
  • Электронная пушка
    Эмиссионная электронная пушка Шоттки
  • Ускоряющее напряжение
    0~30КВ
  • Максимальный диаметр образца
    175 мм
  • Этап образца
    Пятиосный эвцентрический моторизованный столик
  • Место происхождения
    Китай
  • Фирменное наименование
    OPTO-EDU
  • Сертификация
    CE, Rohs
  • Номер модели
    А63.7080
  • Документ
    Брошюра продукта PDF
  • Количество мин заказа
    1 ПК
  • Цена
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Упаковывая детали
    Упаковка коробки, для перевозок из страны
  • Время доставки
    5 ~ 20 дней
  • Условия оплаты
    T/T, West Union, PayPal
  • Поставка способности
    месяц 5000 ПК

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080

  • Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080
Получить цену Контакт
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 0
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 1
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 2
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 3
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 4
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 5
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 6
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 7
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 8
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 9
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 10
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 11
 
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 12
 
А63.7080, A63.7081 Основная функция программного обеспечения
Интегрированное высоковольтное пусковое устройство Автоматическое включение или выключение филамента Регулирование возможных смен
Настройка яркости Электрическая на центральную регулировку Автоматическая яркость
Настройка контраста Настройка объектива Автофокусировка
Настройка увеличения Целевое дегауссирование Автоматическое устранение астигматизма
Выбранный режим сканирования области Электрическое регулирование вращения Управление параметрами микроскопа
Режим точечного сканирования Настройка смещения электронного пучка Отображение в реальном времени размера сканирующего поля
Режим сканирования линий Регулирование наклона электронного луча Настройка линзы пистолета
Сканирование поверхности Настройка скорости сканирования Многоканальный вход
Мониторинг мощности высокого напряжения Центровка колебания Измерение линейки


Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 13
Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 14
 
SEM А63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 А63.7080
A63.7080-L		 А63.7081
Резолюция 3nm@30KV ((SE)
6nm@30KV ((BSE)		 1.5nm@30KV(SE)
3nm@30KV ((BSE)		 1.0nm@30KV(SE)
3.0nm@1KV(SE)
2.5nm@30KV ((BSE)
Увеличение 1x~450000x,Отрицательное истинное увеличение 1x~600000x, отрицательное истинное увеличение 1x~3000000x отрицательное истинное увеличение
Электронная пушка Запчасти из вольфрамовых нитей с предварительным центрированием Пистолет с полевыми выбросами Schottky Пистолет с полевыми выбросами Schottky
Напряжение Ускоряющее напряжение 0.2～30 кВ, непрерывно регулируемый, регулируемый шаг 100 В@0-10 КВ, 1 КВ@10-30 КВ
Быстрый просмотр Функция быстрого просмотра изображения одной клавиши Никаких Никаких
Система линз Трехуровневые электромагнитные конические линзы Многоуровневые электромагнитные конические линзы
Апертура 3 Молибденовые отверстия объектива, регулируемые вне вакуумной системы, нет необходимости демонтировать объектив для изменения отверстия
Вакуумная система 1 Турбомолекулярный насос
1 Механический насос
Вакуум в комнате для отбора проб> 2,6E-3Pa
Вакуум электронного пистолета> 2,6E-3Pa
Полностью автоматическое управление вакуумом
Вакуумная блокировка

Факультативная модель: A63.7069-LV
1 Турбомолекулярный насос
2Механические насосы
Вакуум в комнате для отбора проб> 2,6E-3Pa
Вакуум электронного пистолета> 2,6E-3Pa
Полностью автоматическое управление вакуумом
Вакуумная блокировка
Низкий вакуумДиапазон 10 ~ 270 Pa для быстрой переключения за 90 секунд для BSE ((LV)		 1 набор ионных насосов
1 Турбомолекулярный насос
1 Механический насос
Вакуум в комнате для отбора проб> 6E-4Pa
Вакуум электронного пистолета>2E-7 Pa
Полностью автоматическое управление вакуумом
Вакуумная блокировка		 1 Ионная помпа с распылителем
1 Геттерский ионный соединенный насос
1 Турбомолекулярный насос
1 Механический насос
Вакуум в комнате для отбора проб> 6E-4Pa
Вакуум электронного пистолета>2E-7 Pa
Полностью автоматическое управление вакуумом
Вакуумная блокировка
Детектор SE: Высоковакуумный вторичный электронный детектор (с защитой детектора) SE: Высоковакуумный вторичный электронный детектор (с защитой детектора) SE: Высоковакуумный вторичный электронный детектор (с защитой детектора)
BSE: Семипроводники 4 Сегментация
Детектор обратного рассеяния		 Необязательно Необязательно
Факультативная модель: A63.7069-LV
БСЕ ((LV): Полупроводники 4 Сегментация
Детектор обратного рассеяния		 　 　
СКД:Инфракрасная камера CCD СКД:Инфракрасная камера CCD СКД:Инфракрасная камера CCD
Расширить порт 2 Расширить порты на пробирке для
EDS, BSD, WDS и т.д.		 4 Расширить порты на пробирке для
BSE, EDS, BSD, WDS и т.д.		 4 Расширить порты на пробирке для
BSE, EDS, BSD, WDS и т.д.
Стадия образца 5 Оси Стадия, 4Автомобиль+ 1Учебное пособиеКонтроль
Дальность следования:
X=70 мм, Y=50 мм, Z=45 мм,
R=360°, T=-5°~+90° ((Руководство)
Функция сенсорного оповещения и остановки

Факультативная модель:
A63.7069-L5 Осей Авто Большой этап		 5 ОсиАвтомобиль СреднийЭтап
Дальность следования:
X=80 мм, Y=50 мм, Z=30 мм,
R=360°, T=-5°~+70°
Функция сенсорного оповещения и остановки

Факультативная модель:
A63.7080-L5 ОсиАвтомобиль БольшиеЭтап		 5 ОсиАвтомобиль БольшиеЭтап
Дальность следования:
X=150 мм, Y=150 мм, Z=60 мм,
R=360°, T=-5°~+70°
Функция сенсорного оповещения и остановки
Максимальный экземпляр Диаметр 175 мм, высота 35 мм. Диаметр 175 мм, высота 20 мм. Диаметр 340 мм, высота 50 мм
Система изображения Реальное неподвижное изображение Максимальное разрешение 4096x4096 пикселей,
Формат файла изображения: BMP ((по умолчанию), GIF, JPG, PNG, TIF		 Реальное неподвижное изображение Максимальное разрешение 16384x16384 пикселей,
Формат файла изображения: TIF ((по умолчанию), BMP, GIF, JPG, PNG
Видео: Автозапись цифровой. AVI видео		 Реальное неподвижное изображение Максимальное разрешение 16384x16384 пикселей,
Формат файла изображения: TIF ((по умолчанию), BMP, GIF, JPG, PNG
Видео: Автозапись цифровой. AVI видео
Компьютер и программное обеспечение Компьютерная рабочая станция Win 10 Система, с профессиональным программным обеспечением для анализа изображений, чтобы полностью контролировать всю работу микроскопа SEM, компьютерная спецификация не менее Inter I5 3.2GHz, 4G память,24-дюймовый IPS LCD монитор, 500G жесткий диск, мышь, клавиатура
Фото дисплей Уровень изображения богат и тщателен, показывает увеличение в реальном времени, линейку, напряжение, серое криво
Размер
& Вес		 Корпус микроскопа 800x800x1850 мм
Рабочий стол 1340x850x740 мм
Общая масса 400 кг		 Корпус микроскопа 800x800x1480 мм
Рабочий стол 1340x850x740 мм
Общая масса 450 кг		 Корпус микроскопа 1000x1000x1730 мм
Рабочий стол 1330x850x740 мм
Общая масса 550 кг
Факультативные аксессуары
Факультативные аксессуары А50.7002Рентгеновский энергодисперсивный спектрометр EDS
А50.7011Покрытие для разбрызгивания ионов		 А50.7001Детектор электронов обратного рассеяния БГЭ
А50.7002Рентгеновский энергодисперсивный спектрометр EDS
А50.7011Покрытие для разбрызгивания ионов
А50.7030Моторизовать панель управления		 А50.7001Детектор электронов обратного рассеяния БГЭ
А50.7002Рентгеновский энергодисперсивный спектрометр EDS
А50.7011Покрытие для разбрызгивания ионов
А50.7030Моторизовать панель управления

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 15

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 16
А50.7001 Детектор СЕГ полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния;
Доступно в составе A+B, морфологическая информация A-B;
Доступный образец наблюдения без разбрызгивания золота;
Доступно в наблюдении за нечистотой и распределением прямо с карты серых цветов.
А50.7002 EDS (детектор рентгеновских лучей) Силиконовый нитрид (Si3N4) окно для оптимизации низкоэнергетической рентгеновской передачи для анализа легких элементов;
Отличная разрешение и их передовая низкошумная электроника обеспечивают выдающиеся производительность;
Небольшой отпечаток обеспечивает гибкость для обеспечения идеальной геометрии и условий сбора AATA;
Детекторы содержат 30мм чип.
А50.7003 EBSD (электронный луч обратного рассеяния дифракции) Пользователь может проанализировать кристаллическую ориентацию, кристаллическую фазу и микротекстуру материалов и соответствующие характеристики материалов и т.д.
автоматическая оптимизация настроек камеры EBSD
во время сбора данных, выполнять интерактивный анализ в реальном времени для получения максимальной информации
Все данные были помечены временной меткой, которую можно просматривать в любое время.
высокое разрешение 1392 x 1040 x 12
Скорость сканирования и индексации: 198 пунктов / сек, с Ni в качестве стандарта, при условии 2 ~ 5nA он может обеспечить индексную скорость ≥ 99%.
хорошо работает при условии низкого тока луча и низкого напряжения 5 кВ при 100pA
точность измерения ориентации: лучше 0,1 градуса
Использование тройной индексной системы: нет необходимости полагаться на однодиапазонное определение, простая индексация плохого качества шаблона
специальная база данных: специальная база данных EBSD, полученная дифракцией электронов: > 400 фаз
Индексная способность: он может автоматически индексировать все кристаллические материалы 7 кристаллических систем.
Усовершенствованные варианты включают расчет эластичной жесткости (Elastic Stiffness), фактора Тейлора (Taylor), фактора Шмидта (Schmidt) и так далее.
А50.7010 Машина для покрытия Стеклянная защитная оболочка: 250 мм; высота 340 мм;
Камера обработки стекла:
88 мм; 140 мм Высота; 88 мм; 57 мм Высота;
Размер ступени образца: 40 мм (максимум);
Вакуумная система:молекулярный насос и механический насос;
Детекция вакуума: Пирани-Гейдж;
вакуум: лучше 2 x 10-3 Pa;
Защита от вакуума:20 Pa с микроразмерным нагнетательным клапаном;
Движение образца: вращение плоскости, наклон прецессии.
А50.7011 Покрытие для разбрызгивания ионов Камера для обработки стекла: 100 мм; высота 130 мм;
Размер пробной ступени: 40 мм (удерживается 6 чашек для проб);
"Золотая цель" Размер: 58 мм*0,12 мм (толщина);
Детекция вакуума: Пирани-Гейдж;
Защита от вакуума:20 Pa с микроразмерным нагнетательным клапаном;
Средний газ:аргон или воздух с аргонным газом специальный воздушный вход и регулирование газа в микромассе.
А50.7012 Покрытие для распыливания аргоновых ионов Образец был покрыт углеродом и золотом под высоким вакуумом;
Сдвижная таблица проб, однородное покрытие, размер частиц около 3-5 нм;
Нет выбора целевого материала, нет повреждения образцов;
Функции ионной очистки и разжижения ионов могут быть реализованы.
А50.7013 Сушильщик критической точки Внутренний диаметр: 82 мм, внутренняя длина: 82 мм;
Диапазон давления:0-2000psi;
Температурный диапазон: 0°-50° C (32°-122° F)
А50.7014 Литография электронным пучком На основе сканирующего электронного микроскопа была разработана новая система наноэкспозиции;
Модификация сохранила все функции Sem для создания изображения ширины линии на наномасштабе;
Модифицированная система Ebl широко применяется в микроэлектронных устройствах, оптоэлектронных устройствах, квантовых устройствах, исследованиях и разработках микроэлектронных систем.

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 17
А63.7080, A63.7081 Стандартные расходные материалы
1 Филамент полевой эмиссии Установлено в микроскопе 1 шт.
2 Чашка для образцов Диаметр 13 мм 5 шт.
3 Чашка для образцов Диа.32 мм. 5 шт.
4 Углеродистая двусторонняя проводящая лента 6 мм 1 Пакет
5 Вакуумный жир 　 10 шт.
6 Белокожая ткань 　 1 трубка
7 Полирующая паста 　 1 шт.
8 Оригинальное название 　 2 мешка
9 Памучный мазок 　 1 шт.
10 Фильтр масляного тумана 　 1 шт.
А63.7080, A63.7081 Стандартные инструменты и запчасти
1 Внутренний шестиугольный ключик 1.5mm~10mm 1 комплект
2 Пинцеты Длина 100-120 мм 1 шт.
3 Сцепная отвертка 2*50 мм, 2*125 мм 2 шт.
4 Перекрестная отвертка 2*125 ммм 1 шт.
5 Чистая вентиляционная труба Диаметр 10/6,5 мм ((Внешний диаметр/Внутренний диаметр) 5 м
6 Вентиляционный клапан понижающий давление Выходное давление 0-0,6 МПа 1 шт.
7 Внутреннее питание для выпечки 0-3A постоянный ток 2 шт.
8 Электроснабжение ВПС 10 кВА 2 шт.

Контролируемый сканирующий электронный микроскоп мыши Sem 1x~600000x Увеличение A63.7080 18
Бирки:

Портативный цифровой микроскоп

Ручной микроскоп цифров

ручной микроскоп

сопутствующие товары

Наши продукты продаются по всему миру, поэтому вы можете быть уверены в том, что производятся наши продукты в целом.

Получить цитату